石墨化度的間接推測-偉名石墨

石墨化度的間接推測

1.通過測定真密度可間接推測石墨度化，真密度直接依賴于晶格參數的變化減小則真密度增加。真密度的測定方法較簡單，據計算理想石墨的真密度為2.266g/c3，經過1300℃煅燒過的炭質原料真密度一般達到2.0~2.1g/c3，經過2300~3000℃的石墨化后真密度提高到2.20~2.24g/cm3，因此石墨電極的真密度越大表示石墨化程度越高。

2.通過測定電阻率間接推測石墨化度。由于碳的微晶結構在熱處理過程中逐漸由無序排列轉為有序排列，晶格參數的變化，使炭材料的電阻率隨熱處理溫度的上升而降低。由石油焦生產的電極焙燒半成品的試塊電阻率一般為35μm左右，石墨化后一般可降低到10·m以下，用針狀焦生產的優質石墨電極經過溫度為3000℃的高溫石墨化，電阻率可降低到4~5μ.m，石墨制品的電阻率越低說明其石墨化程度越高。

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